Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE - Pokroková technologie pro lidstvo
Stránka 317
IEEE/AIEE 25-1958 (14.02.1958) Neplatné
AIEE Standards for Fuses Above 600 Volts
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
od 1 298.80 CZK viac informácií
IEEE 251-1963 (31.10.1963) Neplatné
IEEE Proposed Test Procedure for Direct Current Tachometer Generators
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
od 1 298.80 CZK viac informácií
IEEE 251-1984 (28.09.1984) Neplatné
IEEE Guide: Test Procedures for Direct-Current Tachometer Generators
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
od 1 298.80 CZK viac informácií
IEEE 252-1963 (30.11.1963) Neplatné
IEEE Proposed Procedure for Polyphase Induction Motors Having Liquid in the Magnetic Gap
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
od 1 298.80 CZK viac informácií
IEEE 252-1977 (12.08.1977) Neplatné
IEEE Test Procedure for Polyphase Induction Motors Having Liquid in the Magnetic Gap
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
od 1 428.60 CZK viac informácií
IEEE 252-1995 (30.11.1995) Neplatné
IEEE Standard Test Procedure for Polyphase Induction Motors Having Liquid in the Magnetic Gap
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 3 355.10 CZK viac informácií
IEEE 254-1963 (15.11.1963) Neplatné
IEEE Standard Definitions of Parametric Device Terms
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
od 1 298.80 CZK viac informácií
IEEE 255-1963 (01.12.1963) Neplatné
IEEE Standard Letter Symbols for Semiconductor Devices
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
od 1 233.80 CZK viac informácií
IEEE 256-1963 (20.12.1963) Neplatné
IEEE Test Procedure for Semiconductor Diodes
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
od 1 298.80 CZK viac informácií
IEEE 257-1964 (30.04.1964) Neplatné
IEEE Technical Committee Report on Recommended Practices for Burst Measurements in the Time Domain
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
od 1 255.50 CZK viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
