Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
JIS - Japonské technické normy
Stránka 918
JIS R1628:1997 (30.04.1997)
Test methods for bulk density of fine ceramic powder
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 96 660.00 CZK viac informácií
JIS R1629:1997 (30.04.1997)
Determination of particle size distributions for fine ceramic raw powders by laser diffraction method
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 96 660.00 CZK viac informácií
JIS R1630:1997 (30.04.1997)
Test methods for tensile strength of fine ceramic joint
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 128 074.50 CZK viac informácií
JIS R1631:1998 (31.01.1998)
Test method for tensile creep of fine ceramics
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 96 660.00 CZK viac informácií
JIS R1632:2010 (21.09.2010)
Test methods for static bending fatigue of fine ceramics
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 190 903.50 CZK viac informácií
JIS R1633:1998 (31.01.1998)
Sample preparation method of fine ceramics and fine ceramic powders for scanning electron microscope observation
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 96 660.00 CZK viac informácií
JIS R1634:1998 (31.01.1998)
Test methods for density and apparent porosity of fine ceramics
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 96 660.00 CZK viac informácií
JIS R1635:1998 (31.01.1998)
Test method for visible light transmittance of fine ceramic thin films
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 96 660.00 CZK viac informácií
JIS R1636:1998 (31.01.1998)
Test method for thickness of fine ceramic thin films -- Film thickness by contact probe profilometer
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 96 660.00 CZK viac informácií
JIS R1637:1998 (31.01.1998)
Test method for resistivity of conductive fine ceramic thin films with a four-point probe array
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 96 660.00 CZK viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
