Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Stránka 2948
Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality. Part 3: Standard outlines and lead connections
Dostupné prevedenie: Tlačené
Oscilátory stanovenej kvality riadené kremenným kryštálom. Časť 6: Metódy merania fázového jittera pre oscilátory riadené kremenným kryštálom a oscilátory SAW. Návod na použitie (Norma na priame používanie ako STN).
Dostupné prevedenie: Tlačené
Sectional specification: Quarz crystal
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Blank detail specification: Quarz crystal
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality. Part 4: Sectional specification. Capability approval
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality. Part 4- 1: Blank detail specification. Capability approval
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality. Part 5: Sectional specification. Qualification approval
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality. Part 5-1: Blank detail specification. Qualification approval
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 1: Basic methods for the measurement
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 2: Phase jitter measurement method
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené