UNE - Španělské národní normy

Stránka 3391

64755 nájdených produktov
Zoradiť podľa:
  • relevantnosti
    • relevantnosti
    • dátum (najnovšie)
    • dátum (najstarší)
UNE-EN IEC 62401:2019 (1.11.2019)

UNE-EN IEC 62401:2019 (01.11.2019)

Radiation protection instrumentation - Alarming personal radiation devices (PRDs) for the detection of illicit trafficking of radioactive material (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in November of 2019.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 1 931.40 CZK viac informácií
UNE-EN IEC 62402:2019 (1.8.2019)

UNE-EN IEC 62402:2019 (01.08.2019)

Obsolescence management (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in August of 2019.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 2 432.50 CZK viac informácií
UNE-EN 62403:2006 (1.6.2006)

UNE-EN 62403:2006 (01.06.2006)

High Density Recording Format on CD-R/RW disc system - HD-BURN format (Endorsed by AENOR in June of 2006.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 1 858.40 CZK viac informácií
UNE-EN 62415:2010 (1.9.2010)

UNE-EN 62415:2010 (01.09.2010)

Semiconductor devices - Constant current electromigration test (Endorsed by AENOR in September of 2010.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 1 286.80 CZK viac informácií
UNE-EN 62416:2010 (1.9.2010)

UNE-EN 62416:2010 (01.09.2010)

Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors (Endorsed by AENOR in September of 2010.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 1 216.30 CZK viac informácií
UNE-EN 62417:2010 (1.9.2010)

UNE-EN 62417:2010 (01.09.2010)

Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (Endorsed by AENOR in September of 2010.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 977.90 CZK viac informácií
UNE-EN 62418:2010 (1.10.2010)

UNE-EN 62418:2010 (01.10.2010)

Semiconductor devices - Metallization stress void test (Endorsed by AENOR in October of 2010.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 1 549.50 CZK viac informácií
UNE-EN 62419:2009 (1.5.2009)

UNE-EN 62419:2009 (01.05.2009)

Control technology - Rules for the designation of measuring instruments (Endorsed by AENOR in May of 2009.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 1 335.40 CZK viac informácií
UNE-EN 62420:2009 (25.3.2009)

UNE-EN 62420:2009 (25.03.2009)

Concentric lay stranded overhead electrical conductors containing one or more gap(s)

Dostupné jazyky: Anglicky, Španielsky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 1 907.10 CZK viac informácií
UNE-EN 62421:2007 (1.3.2008)

UNE-EN 62421:2007 (01.03.2008)

Electronics assembly technology - Electronic modules (IEC 62421:2007). (Endorsed by AENOR in March of 2008.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 1 525.20 CZK viac informácií
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.