Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF, Tlačené
Označenie: ASTM E1250-15(2020)
Dátum vydania: 01.07.2020
Stránok: 10
Krajina: Americká technická norma