ASTM E1438-91(1996) img
Neplatné | Vydaná: 15.09.1991

ASTM E1438-91(1996) Neplatné

Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF

od 68.30 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM E1438-91(1996)

Dátum vydania: 15.09.1991

Stránok: 2

Poznámka: Neplatné

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
data analysis-spectrochemical, depth resolution, interface width, profile distortion, secondary ion mass spectrometry (SIMS)
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.