Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Practice for Analytically Describing Sputter-Depth-Profile Interface Data by an Extended Logistic Function
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
Označenie: ASTM E1636-04
Dátum vydania: 01.11.2004
Stránok: 7
Poznámka: Neplatné
Krajina: Americká technická norma