Neplatné | Vydaná: 01.11.2011

ASTM E2244-11e1 Neplatné

Standard Test Method for In-Plane Length Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer (Includes all amendments And changes 5/28/2018).

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF

od 85.80 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM E2244-11e1

Dátum vydania: 01.11.2011

Stránok: 14

Poznámka: Neplatné

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
cantilevers, combined standard uncertainty, deflection measurements, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, round robin, strain gradient, test structure, ICS Number Code 37.040.20 (Photographic paper, film and plates. Cartridges)

Populárna vydavatelia

celý katalóg