Neplatné | Vydaná: 01.11.2005

ASTM E2245-05 Neplatné

Standard Test Method for Residual Strain Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF

od 85.80 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM E2245-05

Dátum vydania: 01.11.2005

Stránok: 20

Poznámka: Neplatné

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
cantilevers, combined standard uncertainty, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, stiction, strain gradient, test structure, ICS Number Code 37.040.20 (Photographic paper, film and plates. Cartridges)

Populárna vydavatelia

celý katalóg