ASTM E2445/E2445M-20 img
Aktívna norma | Vydaná: 15.06.2020

ASTM E2445/E2445M-20

Standard Practice for Performance Evaluation and Long-Term Stability of Computed Radiography Systems

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF, Norma a Redline - Online zabezpečené PDF, Tlačené, Tlač + redline

od 91.10 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM E2445/E2445M-20

Dátum vydania: 15.06.2020

Stránok: 21

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
basic spatial resolution, burn-in, central beam alignment, contrast sensitivity, CR phantom, EPS, erasure, geometric distortion, imaging plate artifacts, imaging plate fading, laser beam scan line integrity, laser jitter, PMT non-linearity, scan column dropout, scanner slippage, spatial linearity,, ICS Number Code 19.100 (Non-destructive testing)
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.