Neplatné | Vydaná: 01.06.2011

ASTM F1263-11 Neplatné

Standard Guide for Analysis of Overtest Data in Radiation Testing of Electronic Parts

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF

od 69.70 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM F1263-11

Dátum vydania: 01.06.2011

Stránok: 3

Poznámka: Neplatné

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
confidence, rejection, overtest data, statistical analysis, Acceptance criteria/testing, Data analysis, Electrical conductors (semiconductors), Estimated survival probability, Failure end point--electronic components/devices, Microelectronic devices, Overtest data, Probability of survival, Quality assurance (QA), Stress--electronic components/device, ICS Number Code 31.020 (Electronic components in general)

Populárna vydavatelia

celý katalóg