Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
Označenie: BS EN 62373:2006
Dátum vydania: 29.09.2006
Stránok: 16
Krajina: Britská technická norma