Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using an accelerometer.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
Označenie: BS EN IEC 60749-37:2022-TC
Dátum vydania: 20.12.2022
Stránok: 60
Krajina: Britská technická norma