Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Microbeam analysis. Focused ion beam application for TEM specimen preparation. Vocabulary.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
Označenie: BS ISO 17297:2025
Dátum vydania: 29.05.2025
Stránok: 26
Krajina: Britská technická norma