Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktívna norma | Vydaná: 14.05.2019
BS ISO 22415:2019
Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 308.00 EUR
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: BS ISO 22415:2019
Dátum vydania: 14.05.2019
Stránok: 38
Krajina: Britská technická norma
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skAnotácia
ISBN: 978 0 580 98908 7 Status: ConfirmedPopulárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
