Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Vocabulary.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
Označenie: BS ISO 22493:2014
Dátum vydania: 30.04.2014
Stránok: 32
Krajina: Britská technická norma