Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
Označenie: BS ISO 25498:2025
Dátum vydania: 16.05.2025
Stránok: 52
Krajina: Britská technická norma