Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials (IEC 62047-6:2009)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: ČSN EN 62047-6
Dátum vydania: 01.11.2010
Stránok: 24
Krajina: Česká technická norma