Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktívna norma | Vydaná: 01.04.2021
ČSN EN IEC 60749-41
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 14.50 EUR
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: ČSN EN IEC 60749-41
Dátum vydania: 01.04.2021
Stránok: 36
Krajina: Česká technická norma
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skAnotácia
Tato norma stanovuje procedurální požadavky na provádění platných zkoušek výdrže, uchování a zkoušek na opačné teplotě založené na kvalifikační specifikaci. Kvalifikační specifikace výdrže a uchování (pro počet cyklů, trvání, teploty a velikosti vzorku) jsou specifikovány v JESD47, nebo jsou vyvíjeny pomocí metod vycházejících ze znalostí JESD94Populárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
