Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors.
(Halbleiterbauelemente - Hot-Carrier-Prüfverfahren für MOS-Transistoren.)
Dostupné jazyky: Nemecky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
Označenie: DIN EN 62416:2010-12
Dátum vydania: 01.12.2010
Stránok: 12
Krajina: Nemecká technická norma