Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Guidelines for calibrating image magnification
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Označenie: GB/T 27788-2020
Dátum vydania: 02.06.2020
Stránok: 0
Krajina: Čínska technická norma