Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Nanotechnology—Method for the measurement of the nanofilm-thickness by atomic force microscopy
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Označenie: GB/T 36969-2018
Dátum vydania: 28.12.2018
Stránok: 0
Krajina: Čínska technická norma