Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
X-ray devices. The method of measuring of spectral structure and relative spectrum contamination
Dostupné jazyky: Rusky, Anglicky a rusky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Označenie: GOST 22091.8-84
Dátum vydania: 01.01.1986
Stránok: 2
Krajina: Ruská technická norma