Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
State system for ensuring the uniformity of measurements. Method of surface roughness effective height measurements by means of scanning probe atomic force microscope
Dostupné jazyky: Rusky, Anglicky a rusky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Označenie: GOST R 8.700-2010
Dátum vydania: 01.11.2010
Stránok: 16
Krajina: Ruská technická norma