IEC/TS 62804-2-ed.1.0 img
Aktívna norma | Vydaná: 29.03.2022

IEC/TS 62804-2-ed.1.0

Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation - Part 2: Thin-film

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené, CD-ROM

od 380.60 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: IEC/TS 62804-2-ed.1.0

Dátum vydania: 29.03.2022

Stránok: 44

Krajina: Medzinárodná technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

IEC TS 62804-2:2022 defines apparatus and procedures to test and evaluate the durability of photovoltaic (PV) modules to power loss by the effects of high voltage stress in a damp heat environment, referred to as potential-induced degradation (PID). This document defines a test method that compares the coulomb transfer between the active cell circuit and ground through the module packaging under voltage stress during accelerated stress testing with the coulomb transfer during outdoor testing to determine an acceleration factor for the PID. This document tests for the degradation mechanisms involving mobile ions influencing the electric field over the semiconductor absorber layer or electronically interacting with the films such that module power is affected.
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.