Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE Standard Methods of Testing Transistors
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
Označenie: IEEE 218-1956
Dátum vydania: 30.11.1955
Stránok: 0
Poznámka: Neplatné
Krajina: Medzinárodná technická norma