Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Zabezpečené PDF - okamžité stiahnutie
Označenie: IEEE 300-1969
Dátum vydania: 30.11.1968
Stránok: 0
Poznámka: Neplatné
Krajina: Medzinárodná technická norma