Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 2-1: Electrical continuity and contact resistance tests -- Test 2a : Contact resistance -- Millivolt level method
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Označenie: JIS C5402-2-1:2005
Dátum vydania: 20.03.2005
Stránok: 3