Aktívna norma | Vydaná: 01.06.2022

ÖNORM EN ISO 9220

Metallic coatings - Measurement of coating thickness - Scanning electron microscope method (ISO 9220:2022)

Dostupné jazyky: Anglicky, Nemecky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

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Podrobné informácie

Označenie: ÖNORM EN ISO 9220

Dátum vydania: 01.06.2022

Stránok: 19

Krajina: Rakúska technická norma

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Anotácia

Dieses Dokument legt ein zerstörendes Verfahren zur Messung der örtlichen Schichtdicke metallischer und anderer anorganischer Überzüge fest, in dem Querschnitte mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) untersucht werden. Das Verfahren ist für Schichtdicken bis zu mehreren Millimetern anwendbar, allerdings ist es für solch dicke Schichten üblicherweise praktischer, ein Lichtmikroskop (siehe ISO 1463) zu verwenden. Die untere Dickengrenze hängt von der erreichten Messunsicherheit ab.

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