Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Residual Stress Measurement by X-Ray Diffraction
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Označenie: SAE J784A
Dátum vydania: 01.08.1971
Stránok: 0
Krajina: Americká technická norma