Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Transistors. Method of measurement of the real component of the short- circuit input impedance
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: STN 358755
Dátum vydania: 01.03.1970
Stránok: 0
Poznámka: Neplatné
Krajina: Slovenská technická norma