Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Transistors. Methods of measuring collector and emitter barrier layer capacitance
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: STN 358757-5
Dátum vydania: 01.04.1985
Stránok: 0
Poznámka: Neplatné
Krajina: Slovenská technická norma