Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: STN EN 60749-16
Dátum vydania: 01.10.2003
Stránok: 8
Krajina: Slovenská technická norma