Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: STN EN 60749-4
Dátum vydania: 01.02.2003
Stránok: 27
Poznámka: Neplatné
Krajina: Slovenská technická norma