Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: STN EN 60749-5
Dátum vydania: 01.10.2003
Stránok: 9
Poznámka: Neplatné
Krajina: Slovenská technická norma