Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: STN EN 62047-3
Dátum vydania: 01.06.2007
Stránok: 15
Krajina: Slovenská technická norma