STN EN 62374 img
Neplatné | Vydaná: 01.07.2008

STN EN 62374 Neplatné

Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films

Dostupné prevedenie: Tlačené

Podrobné informácie

Označenie: STN EN 62374

Dátum vydania: 01.07.2008

Stránok: 26

Poznámka: Neplatné

Krajina: Slovenská technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.