Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: STN EN 62374
Dátum vydania: 01.07.2008
Stránok: 26
Poznámka: Neplatné
Krajina: Slovenská technická norma