Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
Dostupné jazyky: Anglicky, Španielsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Označenie: UNE-EN 60749-14:2004
Dátum vydania: 11.06.2004
Stránok: 35
Krajina: Španielska technická norma