Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in August of 2017.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Označenie: UNE-EN 60749-5:2017
Dátum vydania: 01.08.2017
Stránok: 19
Krajina: Španielska technická norma