Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in July of 2017.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Označenie: UNE-EN 60749-6:2017
Dátum vydania: 01.07.2017
Stránok: 16
Krajina: Španielska technická norma