Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Optical measurement and microtopographies - Calibration of interference microscopes and depth measurement standards for roughness measurement.
(Optische Messtechnik an Mikrotopografien - Kalibrieren von Interferenzmikroskopen und Tiefeneinstellnormalen für die Rauheitsmessung.)
Dostupné jazyky: Anglicky a nemecky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
Označenie: VDI/VDE 2655Blatt1.1
Dátum vydania: 01.01.2024
Stránok: 41
Krajina: Nemecká technická norma