Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Strana 7186
Standard Practice for Ensuring Test Consistency in Neutron-Induced Displacement Damage of Electronic Parts
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF
Standard Practice for Ensuring Test Consistency in Neutron-Induced Displacement Damage of Electronic Parts
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF
Standard Test Method for Use of 2N2222A Silicon Bipolar Transistors as Neutron Spectrum Sensors and Displacement Damage Monitors
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF
Standard Test Method for Use of 2N2222A Silicon Bipolar Transistors as Neutron Spectrum Sensors and Displacement Damage Monitors (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF
Standard Test Method for Use of 2N2222A Silicon Bipolar Transistors as Neutron Spectrum Sensors and Displacement Damage Monitors
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF
Standard Test Method for Use of 2N2222A Silicon Bipolar Transistors as Neutron Spectrum Sensors and Displacement Damage Monitors (Includes all amendments And changes 12/31/2010).
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF
Standard Test Method for Use of 2N2222A Silicon Bipolar Transistors as Neutron Spectrum Sensors and Displacement Damage Monitors
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF
Standard Test Method for Use of 2N2222A Silicon Bipolar Transistors as Neutron Spectrum Sensors and Displacement Damage Monitors
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF
Standard Test Method for Use of 2N2222A Silicon Bipolar Transistors as Neutron Spectrum Sensors and Displacement Damage Monitors
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF
Standard Guide for Evaluating Computerized Data Acquisition Systems Used to Acquire Data from Universal Testing Machines
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF