Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Strana 1236
Test methods for physical characters of rare earth metals and their compounds Determination for particle size distribution of rare earth compounds
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Test methods for physical properties of rare earth metals and their compounds—Part 1: Determination of particle size distribution of rare earth compounds—Laser diffraction method
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Test method of physical characters of rare earth metals and compounds Determination on specific surface area of rare earth compounds
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Test methods for physical properties of rare earth metals and their compounds—Part 2: Determination of specific surface area of rare earth compounds—Nitrogen adsorption method
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
EPA system architecture and communication specification for use in industrial control and measurement systems
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Petroleum and natural gas industries - Collection and exchange of reliability and maintenance data for equipment
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Valves for petroleum and natural gas industries
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Petroleum drilling and production equipment—Drill-through equipment
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Surface chemical analysis—Sputter depth profiling—Optimization using layered systems as reference materials
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné