Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Strana 4234
Inspection method for macrostructure of wrought magnesium alloy products
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Semiconductor integrated circuits—Measuring methods of video encoder and decoder circuits
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Third-party service platform for electronic contract information security technical requirement
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Microwave circuits—Test methods for detector
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Semiconductor integrated circuits—Digital-analogDAconverter
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Semiconductor integrated circuits—Flash memory(FLASH)
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Nanotechnology—Nano-enabled optoelectrical display— Measurement of optical performance for quantum dot enabled light conversion film
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Nanotechnology—Nano-enabled optoelectrical display—Optical reliability assessment for quantum dot enabled light conversion film
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Digital cameras—Shading measurements
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné