Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Strana 400
VDE 0810-24. Representation of process control engineering - Requests in P&I diagrams and data exchange between P&ID tools and PCE-CAE tools.
(Znázornění v technice řízení procesů - Požadavky v P&I diagramech a pro výměnu dat mezi nářadím P&ID a PCE-CAE. .)
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: Tištěné
VDE 0042-2. Environmentally conscious design (ECD) - Principles, requirements and guidance.
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: Tištěné
VDE 0847-33-1. EMC IC modelling - Part 1: General modelling framework.
(EMC modelování integrovaných obvodů - Část 1: Obecný modelovací rámec..)
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: Tištěné
VDE 0847-33-2. EMC IC modelling - Part 2: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Conducted emissions modelling (ICEM-CE).
(EMC modelování integrovaných obvodů - Část 2: Modely integrovaných obvodů pro simulaci chování EMI - Modelování emisí šířených vedením (ICEM CE). .)
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: Tištěné
VDE 0847-33-3. EMC IC modelling - Part 3: Models of Integrated Circuits for EMI behavioural simulation - Radiated emissions modelling (ICEM-RE).
(EMC modelování integrovaných obvodů - Část 3: Modely integrovaných obvodů pro simulaci chování EMI - Modelování emisí šířených vyzařováním (ICEM-RE)..)
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: Tištěné
VDE 0847-33-4. EMC IC modelling - Part 4: Models of integrated circuits for RF immunity behavioural simulation - Conducted immunity modelling (ICIM-CI).
(EMC modelování integrovaných obvodů - Část 4: Modely integrovaných obvodů pro simulaci chování RF imunity - Modelování imunity pro šíření poruch vedením (ICIM-CI)..)
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: Tištěné
VDE 0847-33-6. EMC IC modelling - Part 6: Models of integrated circuits for pulse immunity behavioural simulation - Conducted pulse immunity modelling (ICIM-CPI).
(EMC modelování integrovaných obvodů - Část 6: Modely integrovaných obvodů pro simulaci chování pulzní imunity - Pulzní imunita pro šíření poruch vedením (ICIM-CPI)..)
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: Tištěné
VDE 0884-135-1. Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 1: General.
(Elektronické součástky - Dlouhodobé skladování elektronických polovodičových součástek - Část 1: Obecně..)
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: Tištěné
VDE 0884-135-2. Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 2: Deterioration mechanisms.
(Elektronické součástky - Dlouhodobé skladování elektronických polovodičových součástek - Část 2: Mechanismy degradace..)
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: Tištěné
VDE 0884-135-3. Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 3: Data.
(Elektronické součástky - Dlouhodobé skladování elektronických polovodičových součástek - Část 3: Data..)
Dostupné jazyky: Německy
Dostupné provedení: Tištěné