IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace

Energy and data interfaces of users connected to the smart grid with other smart grid stakeholders - Standardization landscape

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

Maritime navigation and radiocommunication equipment and systems - Maritime survivor locating devices (man overboard devices) - Minimum requirements, methods of testing and required test results
(Materiels et systemes de navigation et de radiocommunication maritimes - Dispositifs de localisation des survivants en mer (dispositifs en cas d´homme a la mer) - Exigences minimales, methodes d´essai et resultats d´essai exiges)

Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

Predictive maintenance of industrial automation equipment and systems - Part 1: General requirements
(Maintenance predictive des equipements et systemes d´automatisation industrielle - Partie 1: Exigences generales)

Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

Nuclear facilities - Electrical power systems - AC interruptible power supply systems
(Installations nucleaires - Systemes d´alimentation electrique - Systemes d´alimentation electrique interruptibles en courant alternatif)

Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

Smart city use case collection and analysis - City information modelling - Part 1: High-level analysis

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

Smart city use case collection and analysis - City information modelling - Part 2: Use case analysis

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

Power consumption of high dynamic range television sets

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 1: Test method for bias temperature instability
(Dispositifs a semiconducteurs - Methode d’essai de fiabilite pour les transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteurs discrets en carbure de silicium - Partie 1: Methode d’essai pour la mesure de la derive de la tension de seuil apres polarisation electrique en temperature)

Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 2: Test method for bipolar degradation due to body diode operation
(Dispositifs a semiconducteurs - Methode d’essai de fiabilite pour les transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteurs discrets en carbure de silicium - Partie 2: Methode d’essai de la degradation bipolaire due au fonctionnement de la diode intrinseque)

Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

Guidelines for the hosting capacity evaluation of distribution networks for distributed energy resources

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM