Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Strana 30
IEEE Standard SystemC(R) Language Reference Manual
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení
IEEE Standard for Standard SystemC® Language Reference Manual
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Tištěné
IEEE Standard for Standard SystemC® Language Reference Manual--Corrigendum 1
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení
IEEE Standard for Standard SystemC(R) Analog/Mixed-Signal Extensions Language Reference Manual
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Tištěné
IEEE Standard for Discovery, Authentication, and Authorization in Host Attachments of Storage Devices
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení, Tištěné
IEEE Recommended Practice for Voltage Sag and Short Interruption Ride-Through Testing for End-Use Electrical Equipment Rated Less than 1000 V
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF, Tištěné
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Descriptions
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení, Tištěné
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Descriptions - Corrigendum 1
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Unit Under Test (UUT) Description
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení, Tištěné
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Configuration
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Zabezpečené PDF - okamžité stažení, Tištěné