UNE - Španělské národní normy

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 23-7: Screening and filtering tests - Test 23g: Effective transfer impedance of connectors
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 23-7: Zkoušky stínění a filtrování - Zkouška 23g: Efektivní přenosová impedance konektorů.)

Dostupné jazyky: Anglicky, Španělsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 24-1: Magnetic interference tests - Test 24a: Residual magnetism (Endorsed by AENOR in January of 2013.)
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 24-1: Zkoušky magnetické interference - Zkouška 24a: Zbytkový magnetismus.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 25-1: Test 25a - Crosstalk ratio.
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-1: Zkouška 25a - Odstup přeslechu.)

Dostupné jazyky: Anglicky, Španělsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 25-2: Test 25b: Attenuation (insertion loss).
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-2: Zkouška 25b - Útlum (průchozí ztráty).)

Dostupné jazyky: Anglicky, Španělsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Connectors for electronic equipment - Tests and measurement -- Part 25-3: Test 25c - Rise time degradation.
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-3: Zkouška 25c - Degradace doby náběhu.)

Dostupné jazyky: Anglicky, Španělsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 25-4: Test 25d - Propagation delay.
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-4: Zkouška 25d - Zpoždění vlivem šíření.)

Dostupné jazyky: Anglicky, Španělsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 25-5: Test 25e - Return loss
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-5: Zkouška 25e: Potlačení odrazů.)

Dostupné jazyky: Anglicky, Španělsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 25-6: Test 25f: Eye pattern and jitter
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-6: Zkouška 25f: Obrazec typu oko a kolísání (jitter).)

Dostupné jazyky: Anglicky, Španělsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 25-7: Test 25g - Impedance, reflection coefficient and voltage standing wave ratio (VSWR)
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-7: Zkouška 25g - Impedance, koeficient odrazu a napěťový poměr stojatých vln (VSWR).)

Dostupné jazyky: Anglicky, Španělsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 25-9: Signal integrity tests - Test 25i: Alien crosstalk (Endorsed by AENOR in March of 2009.)
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-9: Zkoušky integrity a signálů - Zkouška 25i: Cizí přeslech.)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné