Neplatná | Vydána: 10.04.2000

ASTM E1217-00 Neplatná

Standard Practice for Determination of the Specimen Area Contributing to the Detected Signal in Auger Electron Spectrometers and Some X-Ray Photoelectron Spectrometers

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 1 871.50 CZK zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ASTM E1217-00

Datum vydání: 10.04.2000

Stran: 7

Poznámka: Neplatná

Země: Americká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Keywords:
Absorbed current, Computer programs, Current measurement, Deflection, Detectors, Line scan, Oscilloscope, Raster scan, Scanning, Signal detection, Specimen area, Spectrometry, Spectroscopy-auger electron (AES), Spectroscopy-x-ray photoelectron, Surface analysis-spectrochemical analysis, Topography, Voltage, Waveform, specimen area contributing to detected signal in, photoelectron/auger-electron spectroscopy, practice, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)

Populární vydavatelé

celý katalog