Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 01.11.2019
ASTM E1634-11(2019)
Standard Guide for Performing Sputter Crater Depth Measurements
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF, Tištěné
od 1 350.70 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: ASTM E1634-11(2019)
Datum vydání: 01.11.2019
Stran: 3
Země: Americká technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
Keywords:Auger electron spectroscopy, secondary ion mass spectrometry, stylus profilometry, surface analysis , X-ray photoelectron spectroscopy,, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)
Populární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
